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QFN封裝器件測試夾具

QFN封裝器件測試夾具
產品簡介:QFN封裝器件測試夾具產品型號:GRSMTF-QFN-XXX適用范圍:適用于QFN封裝的各種微波器件,包括放大器、開關、衰減器、移相器等。可配置較為復雜的供電控制、射頻轉換的輔助電路。產品特點:射頻端口采用微彈片-微帶焊盤直接壓接(最接近實際使用環境),也可采用同軸傳輸結構連接。射頻端口測試頻率可覆蓋至40GHz,支持TRL校準

QFN封裝器件測試夾具

產品型號:GRSMTF-QFN-XXX




適用范圍:

適用于QFN封裝的各種微波器件,包括放大器、開關、衰減器、移相器等。可配置較為復雜的供電控制、射頻轉換的輔助電路。

產品特點:

射頻端口采用微彈片-微帶焊盤直接壓接(最接近實際使用環境),也可采用同軸傳輸結構連接。

射頻端口測試頻率可覆蓋至40GHz,支持TRL校準件精確校準。

供電及控制電路通過探針轉換為平面電路連接直流接插件,方便快捷。

采用定位銷釘和定位片精準定位,待測件放入測試位即可壓緊測試。 

可采用垂直下壓機構或翻蓋壓緊兩種方式壓接,可適應高低溫、振動等篩選試驗的在線測試。

校準件: 

采用TRL校準模式,可以通過反射、延時、傳輸將儀表的測試參考面準確校準到待測件的兩端。校準片一般為R5880B基片,支持頻率最高可達40GHz。使用時先在儀表上設置校準件參數,然后按儀表提示依次將校準件放置到測試夾具上調整壓蓋連接進行校準。

典型產品示例:

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